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Descripción

Nano-Observer AFM

Fabricante: CS Instruments

El Nano-Observer AFM es un microscopio de fuerza atómica versátil y avanzado, diseñado para satisfacer las necesidades de usuarios principiantes y experimentados. Con tecnología de última generación, este instrumento combina alto rendimiento con facilidad de uso, ofreciendo resultados de alta resolución y múltiples capacidades de análisis.

Características Principales:

  • Resolución Atómica: Etapa de escaneo plana avanzada que elimina defectos como curvatura y cruce X-Y.
  • Sistema de Bloqueo Integrado: Mejora la capacidad de medición en modos como detección de fase y piezo-respuesta.
  • Vista Dual de Muestra/Punta: Cámara de video con vistas superior y lateral para facilitar la alineación.
  • Software Intuitivo: Configuración automática de parámetros clave y modos preconfigurados.
  • Modos Múltiples de AFM: Compatible con análisis eléctrico, magnético, viscoelástico y mecánico.

Modos de AFM Destacados:

  • Microscopía de Campo Eléctrico (EFM): Modo oscilante para analizar gradientes de fuerzas eléctricas.
  • Microscopía de Campo Magnético (MFM): Modo oscilante para mapear interacciones magnéticas en la superficie.
  • Microscopía de Fuerza Piezoeléctrica (PFM): Identificación de orientaciones piezoeléctricas mediante oscilaciones eléctricas aplicadas.
  • Conductive AFM (C-AFM): Modo de contacto que mide variaciones de corriente en la superficie.
  • ResiScope™ II: Exclusiva tecnología para medir resistividad en 10 órdenes de magnitud.

Especificaciones Técnicas:

  • Mecánica:

    • Área de escritura: hasta 100 × 92 mm².
    • Precisión de paso: X = 0.16 µm, Y = 1.00 µm.
    • Ruido mecánico: < 1 µm.
  • Óptica:

    • Láser de baja interferencia para alta resolución.
    • Iluminación lateral para mayor contraste visual.
  • Entornos de Trabajo:

    • Compatibilidad con control de ambiente (gas, humedad).
    • Medición en líquidos y rango de temperatura desde -40°C a 300°C.

Aplicaciones:

  • Ciencias de Materiales: Caracterización de polímeros, óxidos y materiales electrónicos.
  • Biología y Ciencias de la Vida: Análisis de estructuras biológicas y materiales blandos.
  • Energía Verde: Dispositivos fotovoltaicos y materiales fotónicos.
  • Nanotecnología: Caracterización de nanomateriales y nanotubos.

Ventajas Competitivas:

  • Configuración optimizada para reducir desgaste en muestras delicadas.
  • Herramientas avanzadas como HD-KFM™ para análisis de superficie potencial.
  • Diseño compacto ideal para uso en campanas de extracción o entornos controlados.

El Nano-Observer AFM es una solución robusta y flexible para investigaciones avanzadas, proporcionando herramientas de análisis precisas y adaptables para múltiples disciplinas científicas.

Más Información:

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