Scienta Omicron NanoSAM Lab
Análisis Químico con Resolución Máxima
El NanoSAM Lab de Scienta Omicron es una herramienta avanzada diseñada para el análisis químico de estructuras a nivel nanométrico. Equipado con la columna de electrones UHV Gemini, este sistema garantiza una resolución sin igual en microscopía Auger (SAM) y microscopía electrónica de barrido (SEM), alcanzando una resolución inferior a los 5 nm en SAM y mejor de 3 nm en SEM.
Características Clave:
Columna de Electrones UHV Gemini:
- Máxima resolución espacial
- Tamaño mínimo del punto de haz electrónico
- Rendimiento único a bajas energías
- SEM eficiente con detector secundario en-lente
Analizador de Electrones NanoSAM:
- Resolución energética variable
- Alta sensibilidad y detección multicanal
Manejo de Muestras:
- Flexibilidad en tamaño de muestra
- Temperatura variable (50-500K)
- Inclinación de muestra ±60°
Resolución Superior:
El NanoSAM Lab es la solución definitiva para el análisis de pequeñas estructuras. Gracias a la columna de electrones UHV Gemini, ofrece una resolución excepcional por debajo de los 5 nm en SAM y mejor de 3 nm en SEM, incluso con energías de haz tan bajas como 5 keV, permitiendo análisis cuantitativos detallados en rangos de parámetros poco convencionales.
Análisis Complementario:
Este equipo está optimizado para la rápida adquisición de datos en muestras rutinarias, manteniendo la flexibilidad para operar con parámetros complejos en materiales desafiantes. Además, el NanoSAM Lab se puede extender con técnicas adicionales para un análisis complementario, como la difracción de electrones retrodispersados (EBSD) para análisis de la estructura cristalina o SEMPA para la estructura de dominios magnéticos.
Estabilidad Mecánica y Corrección de Deriva:
El escenario de muestras del NanoSAM Lab, basado en la experiencia en microscopía de Omicron, es una plataforma extremadamente estable con baja deriva. Incorpora una tecnología de corrección de deriva dinámica, que permite un seguimiento casi continuo del haz electrónico, garantizando valores de deriva inferiores a 10 nm en 12 horas de operación.
Otras Características:
- Profilometría de profundidad y neutralización de carga: Para análisis de materiales aislantes mediante la fuente de sputtering FIG 05.
- Compatibilidad con técnicas opcionales como SAM y XPS combinados, EBSD, FIB para modificación estructural, SEMPA, y litografía por haz de electrones (EBL) bajo condiciones UHV.
El NanoSAM Lab es una herramienta versátil y poderosa, diseñada para satisfacer las más altas exigencias de investigación en laboratorios químicos y materiales avanzados.
