El Thermo Scientific™ Element GD Plus™ GD-MS es una herramienta potente y conveniente diseñada para el análisis de metales en masa y la evaluación de perfiles de profundidad en aplicaciones rutinarias y de investigación. Ofrece un análisis de alta productividad y límites de detección en niveles extremadamente bajos de partes por billón (ppb), siendo la opción más precisa para materiales de alta pureza.
Este espectrómetro de masas con fuente de descarga de gas (GD-MS) permite analizar casi todos los elementos de la tabla periódica tanto en materiales conductores como no conductores con una calidad de datos y sensibilidad excepcionales. Además, facilita el análisis de metales de bajo punto de fusión, como el galio, con un flujo de trabajo dedicado para la preparación y análisis de muestras.
Alta Productividad y Bajo Costo de Análisis
El Element GD Plus GD-MS está diseñado para ofrecer una excepcional sensibilidad y precisión con un alto rendimiento de muestras, lo que reduce significativamente el costo del análisis.
Fuente de Iones de Flujo Rápido
Diseño fácil de usar con intercambio de muestra en menos de 1 minuto.
Tiempos de bombeo rápidos: < 10 minutos de tiempo de vuelta por muestra.
Alta productividad: hasta 5 muestras por hora.
Menos preparación de muestras: no se requiere limpieza con ácidos para muestras de alta pureza.
Análisis más rápido: no es necesario medir estándares de calibración.
Operación Rutinaria
Rango dinámico lineal de más de 12 órdenes de magnitud, lo que permite analizar simultáneamente elementos de matriz (%), trazas (ppm) y ultra-trazas (ppb).
Calibración cruzada automática entre diferentes modos de detección, asegurando resultados robustos.
Cámara de vacío de muestra que elimina el riesgo de fugas entre la muestra y la célula GD.
Determinación rápida de concentraciones elementales con un solo escaneo sin necesidad de estándares de calibración (utilizando el enfoque RSF estándar).
Precisión excepcional en tiempos de análisis cortos.
Límites de Detección Excepcionales
El Element GD Plus GD-MS ofrece una excelente relación señal-ruido y los límites de detección más bajos, lo que lo convierte en una herramienta esencial para el análisis elemental de ultra alta pureza.
Fuente de Iones Única
Diseño especial para una alta transmisión de iones, maximizando la señal analizada.
Garantía de una relación señal-ruido que produce límites de detección sub-ppb.
Opción CNO opcional que alcanza límites de detección sub-ppm para CNO sin comprometer el rendimiento de análisis.
Reducción de Interferencias
Reducción de un factor 10 en las interferencias poliatómicas comparado con fuentes GD estáticas.
Resolución de Masas Alta
La simplicidad del ICP-MS de alta resolución permite el máximo rendimiento sin comprometer el desarrollo de métodos confiables.
Mediciones libres de interferencias para resultados analíticos indiscutibles.
Posibilidad de realizar cualquier combinación de configuraciones de resolución dentro de un solo análisis.
Diseño de rendija fija que garantiza la máxima estabilidad y reproducibilidad.
Mínima contribución de señales de matriz alta a los picos de los analitos vecinos gracias al lente de filtro.
El perfilado de profundidad es una herramienta crucial para el análisis elemental de recubrimientos y la evaluación de la difusión de elementos a través de capas.
Resolución de profundidad desde nanómetros hasta cientos de micrómetros.
Determinación de concentraciones de todos los elementos desde sub-ppm hasta 100% sin necesidad de calibración.
Diámetro del ánodo flexible para perfilado de profundidad avanzado.
Las tasas de esputterización se pueden ajustar para análisis de masa o perfilado de profundidad.
Aeroespacial: Aleaciones de níquel, materiales compuestos, perfilado de recubrimientos y capas de difusión.
Microelectrónica: Cobre, polvo de alúmina, blancos de pulverización.
Energía renovable: Bloques de silicio, obleas, células solares.
Medicina/Farmacéutica/Alimentos: Acero inoxidable, aleaciones.
